芯片解密过程中使用的电子探针仪是X射线光谱学与电子光学技术相结合而产生的。以聚焦的高速电子来激发出试样表面组成元素的特征X射线，对微区成分进行定性或定量分析的一种材料物理试验，又称电子探针X射线显微分析。电子探针分析的原理是：以动能为10～30千电子伏的细聚焦电子束轰击试样表面，击出表面组成元素的原子内层电子，使原子电离，此时外层电子迅速填补空位而释放能量，从而产生特征X射线。
　　用波长色散谱仪（或能量色散谱仪）和检测计数系统，测量特征X射线的波长（或能量）和强度，即可鉴别元素的种类和浓度。
　　在不损耗试样的情况下，电子探针通常能分析直径和深度不小于1微米范围内、原子序数4以上的所有元素；但是对原子序数小于12的元素，其灵敏度较差。常规分析的典型检测相对灵敏度为万分之一，在有些情况下可达十万分之一。检测的绝对灵敏度因元素而异，一般为10-14～10-16克。用这种方法可以方便地进行点、线、面上的元素分析，并获得元素分布的图象。对原子序数高于10、浓度高于10％的元素，定量分析的相对精度优于±2％。
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　额外的系统资源
在前面列出了系统资源，其中有些
部分，提供有用的附加功能来完成
系统。额外的资源，包括低电压检测和
上电复位。列出每个系统资源的优点
在这里：
I2C从设备/ SPI主从模块提供50/100/400
超过两条线kHz的通信能力。 SPI通信的多
三或四线运行在46.9 kHz至3 MHz的速度（较低
较慢的系统时钟）。
I2C硬件地址识别功能降低
已经省去了低功耗
CPU干预，直到数据包到目标设备
被接收。
低电压检测（LVD）中断信号
下降电压等级的应用，同时配备先进的POR
（上电复位）电路消除了系统的需要
监事。
内部参考提供了一个绝对的参考卡帕克
itive检测。
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